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Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte
von Hans Jörg TafelInhaltsverzeichnis
- 1. Einleitung.
- 2. Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung.
- 2.1 Elektrischer und mechanischer Aufbau.
- 2.2 Der Datentransfer.
- 2.3 Arbeitsweise.
- 2.4 Erweiterung des Prüfplatzes.
- 3. Der Prüfplatz für Real-Time Prüfung.
- 3.1 Übersicht über den Hardware-Aufbau.
- 3.2 Testmusterspeicher 2.
- 3.3 Sequenzerbaustein.
- 3.4 Interne Clock.
- 3.5 Pinzuordnung.
- 3.6 Vergleicher.
- 3.7 Befehlsdecoder.
- 3.8 Übersicht über die Ansteuersoftware.
- 4. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für quasistatische Prüfung.
- 4.1 Erkennungs- und Lokalisierungsleistung bei Kurzschlüssen zwischen Signalleitungen.
- 4.2 Einflüsse der Technologie auf das Fehlerverhalten.
- 4.2.1 Aufbau des C-MOS-Gatters.
- 4.2.2 Elektrische Eigenschaften der C-MOS-Gatter und ihr Einfluß auf das Kurzschlußverhalten.
- 5. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für Real-Time — Prüfung.
- 5.1 Erkennungsleistung bei kritischen Signallaufzeiten.
- 5.2 Erkennungsleistung bei gegenseitiger Beeinflussung.
- 6. Zusammenfassung.
- 7. Literatur.