Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme in rekonfigurierbaren Montageumgebungen von Christoph Nicksch | ISBN 9783985551521

Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme in rekonfigurierbaren Montageumgebungen

von Christoph Nicksch
Buchcover Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme in rekonfigurierbaren Montageumgebungen | Christoph Nicksch | EAN 9783985551521 | ISBN 3-98555-152-9 | ISBN 978-3-98555-152-1
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Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme in rekonfigurierbaren Montageumgebungen

von Christoph Nicksch
Die Montage von Großbauteilen erfordert dein Einsatz verteilter Large-Scale Metrology Systeme, um Montagetoleranzen im Submillimeterbereich prüfen zu können. In der Forschungsarbeit wird ein Optimierungsalgorithmus zur Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme für Anwendungen in der Großbauteilmontage entwickelt. Hierbei wird die Messunsicherheit als Zielgröße der Optimierung verwendet, um die Prozessfähigkeit des Messprozesses mittels einer Simulation a-priori bestimmen zu können.