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Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs
mit Frank Schröder-OeynhausenDer Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.