ISBNs beginnend mit 978-3-932392-xx-x Quantenverschränkung und Interferometrie für die Quanteninformatoinsverarbeitung Oliver GlöcklUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200529,00 € UV-Shearing Interferometrie zur Vermessung lithografischer phase-shift Masken und VUV-Strukturierung Gerald FüttererUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200529,00 € Experimentelle Kryptographie mit kontinuierlichen Variablen Stefan LorenzUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2005 Interferometrische Charakterisierung zylindrischer Linsen und Flächen in streifender Inzidenz Klaus MantelUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2005 Phasenmessende Deflektometrie Christoph HorneberUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Verringerung systematischer Meßfehler bei der phasenmessenden Triangulation durch Kalibration Klaus VeitUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Ergebnismodellierung und Qualitätskontrolle kraniofazialer Operationen auf Basis optischer Messtechnik M BenzUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200629,00 € Cryptographic Protocols in Optical Communication Marcos Curty AlonsoUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Probing the focal region of high focused laser beams using a quantum well hetero structure Geoffrey RurimoUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200629,00 € Absolute phasenmessende Deflektometrie Markus KnauerUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200688 Treffer 1 2 3 4 5 6 7 8 9