Sequential Analysis: Tests and Confidence Intervals von Siegmund, David | ISBN 9781475718638

Sequential Analysis: Tests and Confidence Intervals

Buchcover Sequential Analysis: Tests and Confidence Intervals | Siegmund, David | EAN 9781475718638 | ISBN 1-4757-1863-2 | ISBN 978-1-4757-1863-8

Sequential Analysis: Tests and Confidence Intervals

Quelle: amazon.de, abgerufen am 22.05.2025 15:56:24

ISBN-Daten

Verlag
Springer
Autor
Siegmund, David
erschienen am
22.12.2012
ISBN-10
1-4757-1863-2
Preis
55,91 €*
Buch kaufen

Lokal-Verfügbarkeit

 
ca. 15 km um Moreno Valley
**Mit der Eingabe/Ermittlung der Standortdaten willigen Sie der Datenverarbeitung gemäß unserer Datenschutzerklärung ein.
Lokalverfügbarkeit (Karte)

Ankaufspreise

Ankaufspreise ermitteln
Veranstaltung eintragen