High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures von Pietsch, Ullrich, Holy, Vaclav, Baumbach, Tilo | ISBN 9781475740516

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures

Buchcover High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures | Pietsch, Ullrich, Holy, Vaclav, Baumbach, Tilo | EAN 9781475740516 | ISBN 1-4757-4051-4 | ISBN 978-1-4757-4051-6

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures

Quelle: amazon.de, abgerufen am 17.08.2025 21:24:11

ISBN-Daten

Verlag
Springer
Autor
Pietsch, Ullrich, Holy, Vaclav, Baumbach, Tilo
erschienen am
22.12.2012
ISBN-10
1-4757-4051-4
Preis
54,68 €*
Buch kaufen

Lokal-Verfügbarkeit

 
ca. 15 km um Moreno Valley
**Mit der Eingabe/Ermittlung der Standortdaten willigen Sie der Datenverarbeitung gemäß unserer Datenschutzerklärung ein.
Lokalverfügbarkeit (Karte)

Ankaufspreise

Ankaufspreise ermitteln
Veranstaltung eintragen