Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV | ISBN 9783037854426

Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV

herausgegeben von Hiroshi Yamada-Kaneta und Akira Sakai
Mitwirkende
Herausgegeben vonHiroshi Yamada-Kaneta
Herausgegeben vonAkira Sakai
Buchcover Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV | EAN 9783037854426 | ISBN 3-03785-442-1 | ISBN 978-3-03785-442-6

Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV

herausgegeben von Hiroshi Yamada-Kaneta und Akira Sakai
Mitwirkende
Herausgegeben vonHiroshi Yamada-Kaneta
Herausgegeben vonAkira Sakai

ISBN-Daten

Archivierter Titel×
Einband - flex.(Paperback)
 
Softcover
324 Seiten
1., Aufl.
1
erschienen im
September 2012
Sprache
Englisch
Rubrik
Geographische Qualifier
ISBN-10
3-03785-442-1
Abmessungen
24,5 x 17 cm
Lieferstatus
nicht verfügbar
Preis (UVP)
120,00 €*
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