Siebentes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse | Wien, 23. bis 25. Oktober 1974 | ISBN 9783211813287

Siebentes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse

Wien, 23. bis 25. Oktober 1974

von M.K. Zacherl
Buchcover Siebentes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse  | EAN 9783211813287 | ISBN 3-211-81328-4 | ISBN 978-3-211-81328-7

Siebentes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse

Wien, 23. bis 25. Oktober 1974

von M.K. Zacherl

Inhaltsverzeichnis

  • Für Walter Koch.
  • Metallkundliche Analyse einst und jetzt.
  • Überlegungen zur Erstellung von Erstarrungsschaubildern.
  • Untersuchungsmethoden zur Phasenbestimmung in Schnellarbeitsstählen.
  • Über die Auswertung von Ergebnissen der Phasenisolierung.
  • Aspekte zur Analyse von Elektrolyten und Einschlüssen mittels der Atomabsorptionsspektrometrie.
  • Mikrosondenuntersuchungen der Verteilung von Cr, Ni, Mn, W, V bei der Verschlackung von Dolomit- und Magnesiasteinen.
  • Möglichkeiten der Untersuchung chromhaltiger Oxideinschlüsse in Stählen.
  • Analysen von Gefügebestandteilen unter Verwendung gespeicherter Rastermikrographien.
  • Die Untersuchungen der Wirkungsweise von Knudsenzellen bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse.
  • Die Auswirkung heterogener Eisenmetall-Verunreinigungen auf gesintertes Molybdän und Wolfram.
  • Untersuchungen der Diffusion im ternären System Ti-V-Zr mittels Mikrosonde.
  • Impulsratenerhöhung durch Elektronenstreuschichten bei der Mikrosonden-Analyse dünner Schichten.
  • Probleme der quantitativen Analyse bei energiedispersiven Systemen.
  • Einsatz der quantitativen energiedispersiven Mikroanalyse in der Metallkunde.
  • Ein System für die automatische quantitative Gefügeanalyse mit der Mikrosonde.
  • Einsatz der Mikrosonde zur Gefügeanalyse eines Werkzeugstahls.
  • A New Correction Method for the Fluorescence Effect in Quantitative Microprobe Analysis.
  • Über die Zusammensetzung meteoritischen Kupfers.
  • Elektronische Struktur und Valenzbandspektren einiger metallischer Hartstoffe.
  • Röntgenspektroskopie mit hochauflösenden Spektrometern.
  • A New Method of Electron-Probe Microanalysis for Determining the Degree of Oxidation in Silicon Oxides.
  • Über einige spezielle röntgenspektroskopische Anwendungen des Mikroanalysators.
  • MikroskopischeKathodolumineszenzuntersuchungen an Halbleitern mit der Elektronenstrahlmikrosonde.
  • Untersuchungen zum Kossel-Effekt nichtzentrosymmetrischer Kristalle.
  • Versuche zur Verbindungsanalyse durch Sekundärionenmassenspektrometrie.
  • Auger-Elektronenspektroskopie an Bruchflächen von Nickel-Wolfram-Verbundwerkstoffen und Siliziumnitrid.
  • Chemische und strukturelle Analysen an Eisenoberflächen mittels Auger-Elektronen-Spektroskopie und LEED.
  • Untersuchung der Oxidbildung an Metallen mit der Auger-Elektronenspektroskopie.
  • Die Röntgenphotoelektronenspektrometrie als zweidimensionales Analysenverfahren.
  • Die Probenaufladung und ihre Kompensation bei röntgenphotoelektronenspektrometrischen Untersuchungen.
  • Die Entfaltung von Röntgenphotoelektronenspektren.
  • Quantitative Analyse metallischer Verbindungen mit Hilfe des Röntgenphotoelektronenspektrometers.
  • Röntgenphotoelektronenspektrometrische Untersuchungen an organischen Stickstoffverbindungen.
  • Analyse von Röntgenbeugungsprofilen zur Bestimmung von Mischkristallanteilen.