VLSI Design and Test | 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings | ISBN 9783642420238

VLSI Design and Test

17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

herausgegeben von Manoj Singh Gaur und weiteren
Mitwirkende
Herausgegeben vonManoj Singh Gaur
Herausgegeben vonMark Zwolinski
Herausgegeben vonVijay Laxmi
Herausgegeben vonD. Boolchandani
Herausgegeben vonVirendra Sing
Herausgegeben vonAdit Singh
Buchcover VLSI Design and Test  | EAN 9783642420238 | ISBN 3-642-42023-0 | ISBN 978-3-642-42023-8

VLSI Design and Test

17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

herausgegeben von Manoj Singh Gaur und weiteren
Mitwirkende
Herausgegeben vonManoj Singh Gaur
Herausgegeben vonMark Zwolinski
Herausgegeben vonVijay Laxmi
Herausgegeben vonD. Boolchandani
Herausgegeben vonVirendra Sing
Herausgegeben vonAdit Singh
This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.