Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden von L. Reimer | ISBN 9783642865589

Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden

von L. Reimer
Buchcover Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden | L. Reimer | EAN 9783642865589 | ISBN 3-642-86558-5 | ISBN 978-3-642-86558-9

Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden

von L. Reimer

Inhaltsverzeichnis

  • A. Untersuchungsmethoden.
  • § 1. Elektronenoptische Grundlagen des Durchstrahlungsmikroskopes.
  • 1.1. Elektronenstrahlerzeugung.
  • 1.1.1. Elektronenaustritt in das Vakuum.
  • 1.1.2. Die Beschleunigung der Elektronen zwischen Kathode und Anode.
  • 1.1.3. Die Haarnadelkathode.
  • 1.1.4. Einfluß der Form des Wehneltzylinders auf den Richtstrahlwert.
  • 1.1.5. Spitzen- und Oxydkathoden.
  • 1.1.6. Die Energieverteilung der Elektronen.
  • 1.2. Elektronenlinsen.
  • 1.2.1. Elektrostatische Linsen.
  • 1.2.2. Magnetische Linsen.
  • 1.2.3. Permanentmagnetische Linsen.
  • 1.3. Bildfehler.
  • 1.3.1. Öffnungsfehler.
  • 1.3.2. Verzeichnung.
  • 1.3.3. Axialer Astigmatismus.
  • 1.3.4. Farbfehler.
  • 1.3.5. Beugungsfehler.
  • 1.3.6. Theoretisches Auflösungsvermögen.
  • Literatur zu § 1.
  • § 2. Prinzipieller Aufbau des Durchstrahlungsmikroskopes.
  • 2.1. Das Beleuchtungssystem.
  • 2.2. Das Abbildungssystem.
  • 2.3. Objekthalterungen für spezielle Untersuchungen.
  • Literatur zu § 2.
  • § 3. Andere Abbildungsverfahren.
  • 3.1. Reflexionsmikroskopie.
  • 3.2. Emissionsmikroskopie.
  • 3.3. Auflichtmikroskopie.
  • 3.4. Rastermikroskopie und Röntgen-Mikroanalyse.
  • Literatur zu § 3.
  • § 4. Messung wichtiger optischer Konstanten.
  • 4.1. Vergrößerungsbestimmung.
  • 4.2. Messung und Korrektur des Astigmatismus.
  • 4.3. Testen des Auflösungsvermögens.
  • 4.4. Messung von Aperturwinkeln.
  • Literatur zu § 4.
  • § 5. Elektronenbeugung.
  • 5.1. Kristallographische Grundlagen.
  • 5.1.1. Bravaissches Translationsgitter und Netzebenen.
  • 5.1.2. Das reziproke Gitter.
  • 5.2. Theorie der Elektronenbeugung in Kristallen.
  • 5.2.1. Materiewellenlänge der Elektronen.
  • 5.2.2. Laue-Gleichungen und Braggsche Reflexionsbedingung.
  • 5.2.3. Kinematische Theorie der Elektronenbeugung.
  • 5.2.4. Dynamische Theorie der Elektronenbeugung.
  • 5.2.5. Intensität der Debye-Scherrer-Ringe.
  • 5.2.6. Kikuchi-Diagramme.
  • 5.3. Die optischen Grundlagen der Elektronenbeugung im Elektronenmikroskop.
  • 5.3.1. Beugung mit Kondensor.
  • 5.3.2. Beugung mit Zwischenabbildung und Feinbereichsbeugung.
  • 5.3.3. Spezielle Elektronenbeugungsverfahren.
  • 5.4. Auswertung und Informationsmöglichkeiten der ElektronenBeugungsdiagramme.
  • 5.4.1. Ermittlung der Netzebenenabstände.
  • 5.4.2. Indizierung der Netzebenen und Strukturbestimmung.
  • 5.4.3. Auswertung von Texturdiagrammen.
  • 5.4.4. Zusatzreflexe in Beugungsdiagrammen.
  • 5.4.5. Beugungsdiagramme amorpher Stoffe.
  • 5.4.6. Orientierungsbestimmung aus Elektronen-Beugungsdiagrammen.
  • Literatur zu § 5.
  • § 6. Bildkontrast in amorphen Objekten.
  • 6.1. Übersicht der Wechselwirkung Elektron-Objekt.
  • 6.2. Klassische Theorie der Streuung (Rutherfordsche Näherung).
  • 6.3. Intensitätsverteilung der elastischen Streuung (Bornsche Näherung).
  • 6.4. Unelastische Streuung.
  • 6.4.1. Intensitätsverteilung der unelastischen Streuung.
  • 6.4.2. Methoden zur Messung von Energieverlusten.
  • 6.4.3. Größe und Gesetzmäßigkeiten der Energieverluste.
  • 6.5. Bildkontrast durch Streuabsorption.
  • 6.6. Unterschied des Kontrastes in amorphen und kristallinen Schichten.
  • Literatur zu § 6.
  • § 7. Phasenkontrast und verwandte Probleme.
  • 7.1. Elektronenoptischer Brechungsindex und inneres Potential.
  • 7.2. Elektronen-Interferometer.
  • 7.3. Phasenkontrast.
  • 7.4. Zonenplatten nach Hoppe und Lenz.
  • Literatur zu § 7.
  • § 8. Bildkontrast in kristallinen Objekten.
  • 8.1. Hell- und Dunkelfeldabbildungen kristalliner Objekte.
  • 8.2. Kontrast in kristallinen Objekten.
  • 8.3. Abbildung von Kristallbaufehlern.
  • 8.3.1. Kontrast von Versetzungen.
  • 8.3.2. Ermittlung des Burgersvektors von Versetzungen.
  • 8.3.3. Stapelfehler.
  • 8.3.4. Andere Kristallbaufehler.
  • 8.4. Moiré-Effekt.
  • Literatur zu § 8.
  • § 9. Präparatveränderungen unter Elektronenbestrahlung.
  • 9.1. Objekterwärmung.
  • 9.1.1. Methoden zur Ermittlung der Objekttemperatur.
  • 9.1.2. Betrag der in Wärme umgesetzten Energieverluste.
  • 9.1.3. Theorie der Objekterwärmung.
  • 9.2. Strahlenschädigung der Objekte.
  • 9.2.1. Strahlenschäden in organischen Substanzen.
  • 9.2.2. Strahlenschäden in anorganischen Kristallen.
  • 9.3. Kontamination.
  • Literatur zu § 9.
  • § 10. Bildaufzeichnung und Intensitätsmessungen.
  • 10.1. Leuchtschirme.
  • 10.2. Bildverstärker.
  • 10.3. Photographische Schichten.
  • 10.3.1. Theoretische Grundlagen.
  • 10.3.2. Eigenschaften einiger kommerzieller Photo-Emulsionen.
  • 10.3.3. Versuche einer hochauflösenden Bildaufzeichnung.
  • 10.3.4. Belichtungskontrolle.
  • 10.4. Intensitätsmeßmethoden.
  • Literatur zu § 10.
  • § 11. Ermittlung der dritten Dimension von elektronenmikroskopischen Präparaten.
  • 11.1. Schrägbeschattung.
  • 11.2. Stereoabbildungen.
  • 11.3. Quantitative Kontrastmessungen.
  • 11.4. Wägungsmethode nach Bahr und Zeitler.
  • Literatur zu § 11.
  • § 12. Abbildung magnetischer und elektrischer Objektfelder.
  • 12.1. Abbildung magnetischer Bereichsstrukturen.
  • 12.2. Abbildung elektrostatischer Objektfelder.
  • Literatur zu § 12.
  • B. Präparationsmethoden.
  • § 13. Objektblenden und Trägernetze.
  • 13.1. Objektblenden.
  • 13.2. Trägernetze.
  • 13.3. Reinigung von Objekt- und Aperturblenden aus Edelmetallen.
  • 13.4. Aufbewahrung, Transport und Handhabung von Präparatträgern.
  • § 14. Grundlagen der Hochvakuum- und Aufdampftechnik.
  • 14.1. Aufbau von Bedampfungsanlagen.
  • 14.2. Hochvakuumverdampfung.
  • 14.2.1. Verdampfungsquellen.
  • 14.2.2. Verdampfung von Siliziummonoxyd.
  • 14.2.3. Kohleverdampfung.
  • 14.2.4. Verdampfung durch Elektronenstoßheizung.
  • 14.2.5. Herstellung von Platin-Kohle-Mischschichten.
  • 14.3. Schichten aus der Kathodenzerstäubung und Glimmentladung.
  • 14.4. Möglichkeiten zur Schichtdickenbestimmung von Aufdampfschichten.
  • 14.5. Schrägbeschattung.
  • 14.5.1. Schräg-, Portrait- und Kegelbedampfung.
  • 14.5.2. Optimale Dicke von Beschattungsfilmen.
  • 14.5.3. Herstellung und Eigenstruktur der Beschattungsfilme.
  • Literatur zu § 14.
  • § 15. Herstellung und Eigenschaften von Trägerfolien.
  • 15.1. Kollodiumfilme.
  • 15.2. Formvarfilme.
  • 15.3. SiO-Filme.
  • 15.4. Kohlefilme.
  • 15.4.1. Kohleschichten als Verstärkung für organische Folien und Schnitte.
  • 15.4.2. Doppelfolien.
  • 15.4.3. Reine Kohlefolien.
  • 15.5. Aluminiumoxyd- und andere Trägerfilme.
  • 15.6. Herstellung von Netz- und Lochfolien.
  • Literatur zu § 15.
  • § 16. Oberflächenabdrücke.
  • 16.1. Filmabdrücke.
  • 16.1.1. Organische Filmabdrücke.
  • 16.1.2. Filmabdrücke mit SiO oder Kohle.
  • 16.1.3. Elektrolytisch niedergeschlagene Filmabdrücke (Epitaxie-Abdrücke).
  • 16.1.4. Oxydabdrücke.
  • 16.1.5. Extraktionsabdrücke.
  • 16.1.6. Dekorationsabdrücke.
  • 16.2. Matrizenabdrcke.
  • 16.2.1. Matrizen durch Eintrocknen von Lösungen.
  • 16.2.2. Matrizen aus Kunststoff-Folien.
  • 16.2.3. Polymerisationsmatrizen.
  • 16.2.4. Metall-Matrizen.
  • 16.2.5. Nachbehandlung von Matrizenabdrücken.
  • 16.3. Hllabdrcke.
  • 16.4. Auflösungsvermögen von Oberflächenabdrücken.
  • 16.5. Zielpräparation von Oberflächenabdrücken.
  • Literatur zu § 16.
  • § 17. Herstellung durchstrahlbarer Folien aus Metallen und anderen Kristallen.
  • 17.1. Mechanische Verfahren.
  • 17.1.1. Walzen und Hämmern.
  • 17.1.2. Spalten.
  • 17.1.3. Ultramikrotomie.
  • 17.2. Chemische Ätzung.
  • 17.3. Ionenätzung.
  • 17.4. Elektrolytisches Polieren.
  • 17.4.1. Allgemeine Grundlagen.
  • 17.4.2. Methoden für Metallfolien.
  • 17.4.3. Herstellung durchstrahlbarer Folien aus kompaktem Material.
  • 17.5. Durchstrahlbare Schichten durch Kristallwachstum.
  • Literatur zu § 17.
  • § 18. Präparation von Pulvern, Suspensionen, Stäuben und Aerosolen.
  • 18.1. Pulverförmige Substanzen.
  • 18.1.1. Aufstäubung.
  • 18.1.2. Eintrocknen einer Suspension.
  • 18.1.3. Anrühren mit einem Bindemittel.
  • 18.1.4. Ultramikrotomie eingebetteter Pulver.
  • 18.2. Suspensionen und Kolloide.
  • 18.2.1. Eintrocknungsmethode.
  • 18.2.2. Zerstäubungsmethoden.
  • 18.3. Stäube und Aerosole.
  • 18.3.1. Thermische Abscheidung.
  • 18.3.2. Elektrische Abscheidung.
  • 18.3.3. Membranfilter.
  • 18.3.4. Ermittlung der Tropfengröße flüssiger Aerosole.
  • Literatur zu § 18.
  • § 19. Gewebefixation.
  • 19.1. Allgemeine Grundlagen.
  • 19.1.1. Postmortale Veränderungen.
  • 19.1.2. Entnahme von Gewebeproben.
  • 19.1.3. Kriterien für die Erhaltung der sublichtmikroskopischen Struktur.
  • 19.2. Osmiumfixation.
  • 19.2.1. Zusammensetzung der Fixationsgemische.
  • 19.2.2. Einfluß des pH-Wertes, der Isotonie und der Zusammensetzung der Fixationsflüssigkeit.
  • 19.2.3. Chemischer Ablauf der Osmiumfixation.
  • 19.2.4. Dauer der Osmiumfixation.
  • 19.3. Kalium-Permanganat-Fixation.
  • 19.4. Aldehyd-Fixation.
  • 19.4.1. Formaldehyd.
  • 19.4.2. Höhere Aldehyde.
  • 19.4.3. Kontrast von aldehydfixierten Geweben.
  • 19.5. Gefrierfixationsmethoden.
  • 19.5.1. Allgemeine Grundlagen zum Gefrierprozeß.
  • 19.5.2. Gefriertrocknung.
  • 19.5.3. Gefriersubstitution.
  • 19.5.4. Gefrierätzung.
  • Literatur zu § 19.
  • § 20. Kontrastierung und histochemische Methoden.
  • 20.1. Abgrenzung zwischen Fixierung, Kontrastierung und histochemischen Nachweismethoden.
  • 20.2. Bleikontrastierung.
  • 20.3. Andere Kontrastierungsmittel.
  • 20.4. Spezifische Kontrastierungen.
  • 20.5. Elektronenmikroskopische Darstellung der Enzymumsatzorte.
  • 20.6. Immunoferritin-Methode.
  • Literatur zu § 20.
  • § 21. Einbettung.
  • 21.1. Entwässerung.
  • 21.2. Methacrylateinbettung.
  • 21.2.1. Zur Chemie der Methacrylat-Polymerisation.
  • 21.2.2. Der Einbettungsprozeß.
  • 21.2.3. Vermeidung von Einbettungsartefakten.
  • 21.3. Epoxydharze.
  • 21.3.1. Araldit.
  • 21.3.2. Epon.
  • 21.3.3. Maraglas.
  • 21.4. Polyester (speziell Vestopal W).
  • 21.5. Wasserlösliche Einbettungsmittel.
  • 21.5.1. Gelatine-Einbettung.
  • 21.5.2. Aquoneinbettung.
  • 21.5.3. X 133/2097 (Durcupan).
  • 21.5.4. Glykolmethacrylate (GMA).
  • 21.5.5. Polyampholyte.
  • 21.6. Orientiertes und gezieltes Einbetten.
  • Literatur zu § 21.
  • § 22. Ultramikrotomie.
  • 22.1. Prinzipielle Wirkungsweise des Ultramikrotomes.
  • 22.2. Herstellung der Schneiden.
  • 22.3. Vorbereitung der Präparate zum Schneiden.
  • 22.4. Bemerkungen zum Schneidprozeß.
  • 22.5. Auffangen der Schnitte.
  • 22.6. Veränderungen der Schnitte unter Elektronenbeschuß.
  • 22.7. Möglichkeiten der Schnittdickenbestimmung.
  • 22.8. Lichtmikroskopische Vergleichsschnitte und ihre Färbung.
  • Literatur zu § 22.
  • § 23. Präparation organischer Teilchen (Fraktionen, Homogenisate, Bakterien, Phagen und Viren).
  • 23.1. Präparation von Kulturen.
  • 23.1.1. Bakterienkulturen.
  • 23.1.2. Gewebekulturen.
  • 23.2. Isolation und Fragmentation.
  • 23.2.1. Isolation von Phagen und Viren.
  • 23.2.2. Fragmentation von Bakterien.
  • 23.2.3. Isolierte Zellbestandteile (Homogenisate).
  • 23.3. Präparation von Suspensionen.
  • 23.3.1. Eintrocknen eines Tropfens auf einer Trägerfolie.
  • 23.3.2. Spreiten in einer Monolage.
  • 23.3.3. Quantitative Verfahren zur Teilchenzählung in Suspensionen.
  • 23.3.4. Gefriertrocknung und Kritische-Punkt-Methode.
  • 23.3.5. Nachbehandlungen der Eintrocknungen (insbesondere Pseudoabdrücke).
  • 23.4. Negativkontrastierung.
  • 23.4.1. Kontrastentstehung und Strukturerhaltung.
  • 23.4.2. Präparationsverfahren.
  • Literatur zu § 23.
  • § 24. Autoradiographie.
  • 24.1. Vorteile und Auflösungsvermögen der elektronenmikroskopischen Autoradiographie.
  • 24.2. Eigenschaften der radioaktiven Isotope und ihrer Träger.
  • 24.3. Präparation der Emulsionen.
  • 24.4. Entwicklung der Emulsionen.
  • Literatur zu § 24.
  • § 25. Monographien über Elektronenmikroskopie.
  • § 26. Bezugsquellen-Nachweis.
  • Namenverzeichnis.