Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik

Inhaltsverzeichnis

• I: Elektronenmikroskopische Untersuchung verfahren.
• 1. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und gerätetechnische Grundlagen.
• 2. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Bildentstehung.
• 3. Hochauflösungs-Elektronenmikroskopie.
• 4. Höchstspannungs-Elektronenmikroskopie.
• 5. Raster-Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und gerätetechnische Grundlagen.
• 6. Raster-Elektronenmikroskopie: Physikalische Grundlagen der Kontrastentstehung.
• 7. Indirekte Oberflächenabbildung durch Abdruck- und Dekorationstechnik.
• 8. Spezielle Verfahren zur Direktabbildung von Oberflächen: Emissions-Elektronenmikroskopie, Spiegel-Elektronenmikroskopie.
• 9. Analytische Elektronenmikroskopie: Kombination von abbildenden und spektrometrischen Methoden.
• 10. Bildverarbeitung mit optischen und elektronischen Verfahren.
• II: Anwendungen in der Festkörperphysik.
• 11. Gitterdefekt-Abbildung durch elektronenmikroskopischen Beugungskontrast.
• 12. Elementare Vorgänge bei der plastischen Verformung.
• 13. Mikroprozesse des Bruches.
• 14. Elektronenmikroskopische Fraktographie.
• 15. Morphologie der Polymere.
• 16. Defekte in Halbleitern und Bauelementestrukturen.
• 17. Molekulare Prozesse auf Kristalloberflächen.
• 18. Wachstum und Struktur dünner Schichten.
• 19. Versetzungsstrukturen in Korngrenzen und Phasengrenzen.
• 20. Domänenstruktur ferroelektrischer und ferromagnetischer Festkörper.
• Anhang 1: Theoretische Grundlagen des elektronenmikroskopischen Beugungskontrastes (einschl. Computersimulation der Abbildung von Kristalldefekten).
• K. Scheerschmidt.
• Anhang 2: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie: Präparationstechnischer Überblick.
• H. Bartsch.
• Literaturübersicht zur Elektronenmikroskopie.