Nanohärtemessung mit dem Rasterkraftmikroskop von Markus Kempf | ISBN 9783899590074

Buch

Nanohärtemessung mit dem Rasterkraftmikroskop

Name: Nanohärtemessung mit dem Rasterkraftmikroskop
Author: Markus Kempf

91 Abb., davon 11 farb., 5 Tab.

Archivierter Titel, da nicht lieferbar.×

Einband - flex.(Paperback)

Softcover

172 Seiten

1., Aufl.

Verlag

Autor

erschienen am

01.11.2002

ISBN-10

3-89959-007-4

ISBN-13

Abmessungen

21 x 15 cm

Lieferstatus

nicht verfügbar

Preis

29,90 €*

ca. 15 km um Moreno Valley

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