Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle

Inhaltsverzeichnis

• 1. Einleitung.
• 2. Grundlagen der Sekundärionenemission.
• 3. Die statische Methode der Sekundärionen-Massenspektrometrie.
• 4. Apparatur.
• 5. Die chemische Sekundärionenemission von Anionenkomplexen.
• 6. Abtragung monomolekularer und mehrere Monolagen dicker Schichten durch Ionenbeschuß.
• 7. Die Oxidation von Metallen im Monolagenbereich.
• 8. Das Wertigkeitsmodell.
• 9. Anwendung des Wertigkeitsmodells auf Sauerstoffexposition und Ionenbeschußdesorption (“dynamisches Wertigkeitsmodell”).
• 10. Die Grenzen der Anwendbarkeit des Wertigkeitsmodells.
• Literatur.
• Tabellen.
• Abbildungen.