Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse von Harald Krischner | Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt | ISBN 9783322989727

Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse

Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt

von Harald Krischner
Buchcover Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse | Harald Krischner | EAN 9783322989727 | ISBN 3-322-98972-0 | ISBN 978-3-322-98972-7

Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse

Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt

von Harald Krischner

Inhaltsverzeichnis

  • 1. Entstehung und Eigenschaften von Röntgenstrahlen.
  • 1.1. Definition.
  • 1.2. Das kontinuierliche Röntgenspektrum.
  • 1.3. Das charakteristische Röntgenspektrum.
  • 1.4. Erzeugung von Röntgenstrahlen.
  • 1.5. Strahlenschutz.
  • 1.6. Nachweis von Röntgenstrahlen.
  • 1.7. Absorption von Röntgenstrahlen.
  • 1.8. Anregung der Eigenstrahlung.
  • 1.9. Brechung von Röntgenstrahlen.
  • 1.10. Streuung von Röntgenstrahlen.
  • 1.11. Beugung von Röntgenstrahlen.
  • 2. Pulveraufnahmeverfahren.
  • 2.1. Debye-Scherrer-Verfahren.
  • 2.2. Aufnahmeverfahren nach Straumanis.
  • 2.3. Ausmessen von Debye-Scherrer-Filmen und Straumanisfilmen und Berechnung der Netzebenenabstände.
  • 2.4. Seemann-Bohlin-Verfahren.
  • 2.5. Planfilm- und Kegelverfahren.
  • 2.6. Guinierverfahren.
  • 2.7. Zählrohrdiffraktometerverfahren.
  • 2.8. Pulveraufnahmen bei hoher und tiefer Temperatur.
  • 3. Auswertung von Pulveraufnahmen (Geometrie der Beugung).
  • 3.1. Identifizierung unbekannter Substanzen mit Hilfe des PDF.
  • 3.2. Kristallographische Datenbanken.
  • 3.3. Indizierung von Pulveraufnahmen.
  • 3.4. Präzisionsbestimmung von Gitterkonstanten.
  • 3.5. Quantitative Mengenanalyse.
  • 3.6. Teilchengrößenbestimmung.
  • 4. Die Intensität gebeugter Röntgenstrahlen.
  • 4.1. Der atomare Streufaktor (Atomformfaktor).
  • 4.2. Temperaturfaktor.
  • 4.3. Strukturamplitude und Strukturfaktor.
  • 4.4. Flächenhäufigkeitsfaktor.
  • 4.5. Polarisationsfaktor.
  • 4.6. Lorentzfaktor und kombinierter LP-Faktor.
  • 4.7. Absorptionsfaktor.
  • 4.8. Extinktion.
  • 4.9. Ausdrücke für die relativen Intensitäten.
  • 5. Einkristallverfahren.
  • 5.1. Lauemethode.
  • 5.2. Drehkristallverfahren.
  • 5.3. Die Ewaldsche Konstruktion.
  • 5.4. Gitterkonstantenbestimmung aus Drehkristallaufnahmen.
  • 5.5. Aufnahmeverfahren mit bewegtem Film.
  • 6. Kristallstrukturanalyse.
  • 6.1. Anzahl der Formeleinheiten inder Elementarzelle.
  • 6.2. Punktgruppen und Raumgruppen.
  • 6.3. Raumgruppenbestimmung.
  • 6.4. Das Phasenproblem.
  • 6.5. Iterative Methoden der Kristallstrukturanalyse.
  • 6.6. Bestimmung der Elektronendichteverteilung mittels Fourierreihen.
  • 6.7. Pattersonsynthese.
  • 6.8. Direkte Methoden der Phasenbestimmung.
  • 6.9. Isomorpher Ersatz.
  • 6.10. Anormale Dispersion.
  • 6.11. Strukturverfeinerung.
  • 6.12. Interatomare Abstände und Winkel.
  • 6.13. Grenzen der Methode und Möglichkeiten.
  • 6.14. Kristallographische Programmsysteme.
  • 7. Anwendungsbeispiele für Röntgenuntersuchungen in der Chemie.
  • 7.1. Bestimmung kinetischer Daten.
  • 7.2. Aufstellen eines Zustandsdiagramms.
  • 7.3. Aufstellen des Zustandsdiagramms für ein System Salz-Wasser.
  • 7.4. Festlegen optimaler Bildungsbedingungen.
  • 8. Anhang.
  • 8.1. Vektorrechnung.
  • 8.2. Tabellen und Tafeln.
  • Literatur.
  • Sachwortverzeichnis.