Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 | ISBN 9783709137246

Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976

von M.K. Zacherl
Buchcover Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976  | EAN 9783709137246 | ISBN 3-7091-3724-1 | ISBN 978-3-7091-3724-6

Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976

von M.K. Zacherl

Inhaltsverzeichnis

  • Bedeutung und Möglichkeiten der Reinststoffanalytik in der Metallforschung.
  • Die Bestimmung kleinster N2- und CO-Gehalte in hochschmelzenden Metallen durch tiegelfreie Heißextraktion im Ultrahochvakuum.
  • Einsatz moderner instrumenteller Methoden zur Spurenanalyse in hochschmelzenden Metallen.
  • Applications of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).
  • A Comparison of Quantitative Models for SIMS Analysis.
  • Ermittlung kleiner Diffusionskoeffizienten mittels SIMS in oxydischen Verbindungen.
  • Oberflächen- und Tiefenanalyse mit der Auger-Elektronen-Spektroskopie (AES).
  • Einfluß des Elektronenstrahls und des Zerstäubens bei der AES.
  • Oberflächenuntersuchungen an Metallen und Legierungen mit ESCA.
  • Coating-Untersuchungen mit modernen physikalischen Methoden.
  • Untersuchung dünner Schichten im Rasterelektronenmikroskop.
  • Dünnschichtanalysen in der Elektronensonde.
  • Farbtechniken in der Rasterelektronenmikroskopie und Mikroanalyse.
  • Bremsstrahlungsuntergrund massiver Proben bei der Elektronenstrahlmikroanalyse.
  • Statistische Meßfehler und Auflösungsgrenzen in der energiedispersiven Röntgenanalyse.
  • Methoden der energiedispersiven Elektronenstrahl-Mikroanalyse in der Metallkunde.
  • Energiedispersive Röntgenanalyse an Einschlüssen und Ausscheidungen unter besonderer Berücksichtigung der Matrixeinflüsse.
  • Zum Einsatz des Mikroanalysators für die Untersuchung der Elektronenstruktur der Festkörper.
  • Auswertung von Röntgenvalenzbandspektren mittels mathematischer Methoden.
  • Die Bindung leichter Elemente in oberflächennahen Schichten metallischer Bauteile.
  • Ein Zwei-Platten-Multiplier für das Gebiet der ultraweichen Röntgenstrahlung.
  • Untersuchungen über die Verwendung von Beryllium-Aufdampfschichten in der ESMA.
  • Ermittlung von Diffusionssperrschichten bei derBildung von Nb3Sn-Schichten in Supraleitern mit Hilfe der Elektronenstrahlmikroanalyse.
  • Chemische Diffusion im ternären System Zr-Al-O.
  • Mikroanalytische Untersuchungen hochwarmfester Legierungen für Gasturbinenschaufeln.
  • Mikroanalytischer Aufbau von Bad- und Spritzschlacken eines Chromnickelstahles im Elektroofenprozeß.
  • Analyse von Edelmetall-Keramik-Verbindungen für dentale Anwendungen.
  • Untersuchung des Mikrogefüges Hf-hältiger Ni-Basis-Superlegierungen.
  • Korrosion von austenitischen Stählen in flüssigem Natrium.
  • Elektronenstrahlmikroanalyse im Dienste der Archäologie.
  • Verhalten nichtmetallischer Gefügebestandteile der Stähle beim Erhitzen in Wasserstoff.
  • Analysengenauigkeit bei der Bestimmung thermodynamischer Werte im System Ni-C bzw. Ni-CrC.
  • Quantitative Untersuchungen des Ausscheidungsverhaltens der Carbidphasen in X5Cr25 nach elektrochemischer Phasenisolierung.
  • Automatische, chemisch-spezifische Gefügeanalyse — Hardware, Software, Anwendung.
  • Über das Ausscheidungs- und Korrosionsverhalten niobstabilisierter, korrosionsbeständiger Reaktorstähle.
  • Die Bestimmung nichtmetallischer Einschlüsse in metallischen Werkstoffen nach Ultraschall-Brüchen.
  • Das Verhalten von Mangan-Chrom-Spinellen bei der Oxidisolierung aus legierten Stählen.
  • Gedanken zu einer eichprobenfreien Röntgenfluoreszenzanalyse.
  • Nichtdispersive Röntgendiffraktometrie mit Halbleiterdetektoren.
  • Quantitative Röntgenfluoreszenz- und Beugungsanalysen an dünnen Schichten.
  • Zum analytischen Einsatz von Festelektrolyt-Sonden. Sauerstoffbestimmung in multinären Metallschmelzen.