Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings | ISBN 9783540372363

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

herausgegeben von Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli und Dick de Ridder
Mitwirkende
Herausgegeben vonDit-Yan Yeung
Herausgegeben vonJames T. Kwok
Herausgegeben vonAna Fred
Herausgegeben vonFabio Roli
Herausgegeben vonDick de Ridder
Buchcover Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | EAN 9783540372363 | ISBN 3-540-37236-9 | ISBN 978-3-540-37236-3

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

herausgegeben von Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli und Dick de Ridder
Mitwirkende
Herausgegeben vonDit-Yan Yeung
Herausgegeben vonJames T. Kwok
Herausgegeben vonAna Fred
Herausgegeben vonFabio Roli
Herausgegeben vonDick de Ridder

Inhaltsverzeichnis

  • Invited Talks.
  • SSPR.
  • Poster Papers.
  • SPR.

ISBN-Daten

Einband - flex.(Paperback)
 
Softcover
939 Seiten
erschienen am
03.08.2006
Sprache
Englisch
Rubrik
Diskrete Mathematik
ISBN-10
3-540-37236-9
Abmessungen
23,5 x 15,5 cm
Lieferstatus
verfügbar
Preis (UVP)
106,99 €*
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