Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings | ISBN 9783540372417

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

herausgegeben von Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli und Dick de Ridder
Mitwirkende
Herausgegeben vonDit-Yan Yeung
Herausgegeben vonJames T. Kwok
Herausgegeben vonAna Fred
Herausgegeben vonFabio Roli
Herausgegeben vonDick de Ridder

ISBN-Daten

Digitalprodukt / E-Book
 
eBook, PDF
939 Seiten
erschienen am
09.08.2006
Sprache
Englisch
Rubrik
Diskrete Mathematik
ISBN-10
3-540-37241-5
978-3-540-37241-7
Lieferstatus
verfügbar
Preis (UVP)
96,29 €*
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