Der kontrollierte Größenwahn | Über die Ambivalenz beim Entwerfen | ISBN 9783775757690

Der kontrollierte Größenwahn

Über die Ambivalenz beim Entwerfen

herausgegeben von Hilde Léon, Marc-Philip Reichwald und Peter-Karsten Schultz
Mitwirkende
Bildbeschreibung vonPeter Härtling
Bildbeschreibung vonEdgar Allan Poe
Bildbeschreibung vonHeinrich v. Kleist
Herausgegeben vonHilde Léon
Herausgegeben vonMarc-Philip Reichwald
Herausgegeben vonPeter-Karsten Schultz
Beiträge vonPeter Piller
Beiträge vonKlaus Behnke
Beiträge vonStephan Berg
Beiträge vonHilde Léon
Beiträge vonFriedrich Meschede
Beiträge vonMartin Weller
Buchcover Der kontrollierte Größenwahn  | EAN 9783775757690 | ISBN 3-7757-5769-4 | ISBN 978-3-7757-5769-0

Der kontrollierte Größenwahn

Über die Ambivalenz beim Entwerfen

herausgegeben von Hilde Léon, Marc-Philip Reichwald und Peter-Karsten Schultz
Mitwirkende
Bildbeschreibung vonPeter Härtling
Bildbeschreibung vonEdgar Allan Poe
Bildbeschreibung vonHeinrich v. Kleist
Herausgegeben vonHilde Léon
Herausgegeben vonMarc-Philip Reichwald
Herausgegeben vonPeter-Karsten Schultz
Beiträge vonPeter Piller
Beiträge vonKlaus Behnke
Beiträge vonStephan Berg
Beiträge vonHilde Léon
Beiträge vonFriedrich Meschede
Beiträge vonMartin Weller
Experimentierfreude und Disziplin, Neugier und Routine, Selbstüberschätzung und Selbstreflexion sind Grundlage und Triebfeder des kreativen Schaffens. Nicht der geniale Einfall oder bloßer Fleiß, sondern stetes Suchen, Finden und Erfinden im interdiszipli